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Hecho en Colombia
José Iván Isaza González
Universidad Tecnológica de Panamá
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Dependability evaluation of COTS microprocessors via on-chip debugging facilities
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Acceso Abierto
José Iván Isaza González
Alejandro Serrano Cases
Felipe Restrepo Calle
Sergio Cuenca Asensi
Antonio Martínez Álvarez
Tópico:
Radiation Effects in Electronics
Publicado: 2016
Citaciones:
11
Altmétricas:
0
Artículo de revista
SHARC: An efficient metric for selective protection of software against soft errors
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0000499625-92
Ranking: ART-ART_A2
Fuente: Microelectronics Reliability
José Iván Isaza González
Felipe Restrepo Calle
Antonio Martínez Álvarez
Sergio Cuenca Asensi
Tópico:
Radiation Effects in Electronics
Publicado: 2018
Citaciones:
5
Altmétricas:
0
Artículo de revista
An Experimental Comparison of Fault Injection Tools for Microprocessor-based Systems
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Acceso Cerrado
Alexander Aponte Moreno
José Iván Isaza González
Alejandro Serrano Cases
Antonio Martínez Álvarez
Sergio Cuenca Asensi
Felipe Restrepo Calle
Tópico:
Radiation Effects in Electronics
Publicado: 2020
Citaciones:
3
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Evaluation of fault injection tools for reliability estimation of microprocessor-based embedded systems
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Acceso Abierto
Fuente: Microprocessors and Microsystems
Alexander Aponte Moreno
José Iván Isaza González
Alejandro Serrano Cases
Antonio Martínez Álvarez
Sergio Cuenca Asensi
Felipe Restrepo Calle
Tópico:
Radiation Effects in Electronics
Publicado: 2022
Citaciones:
1
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Evaluación de la fiabilidad de microprocesadores COTS mediante las infraestructuras de depuración On-Chip
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0000499625-71
Ranking: ART-GC_ART
Fuente: I+D Tecnológico
José Iván Isaza González
Alejandro Serrano Cases
Felipe Restrepo Calle
Sergio Cuenca Asensi
Antonio Martínez Álvarez
Tópico:
Radiation Effects in Electronics
Publicado: 2017
Citaciones:
0
Publicaciones editoriales no especializadas
Evaluación de la fiabilidad de microprocesadores COTS mediante las infraestructuras de depuración On-Chip
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Acceso Abierto
Fuente: DOAJ (DOAJ: Directory of Open Access Journals)
José Iván Isaza González
Alejandro Serrano Cases
Felipe Restrepo Calle
Sergio Cuenca Asensi
Antonio Martínez Álvarez
Tópico:
Radiation Effects in Electronics
Publicado: 2017
Citaciones:
0
Artículo de revista
1
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