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SHARC: An efficient metric for selective protection of software against soft errors

Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0000499625-92
Ranking: ART-ART_A2
Idioma: Inglés
Publicado: 01/09/2018
APC (est): No disponible

Abstract:

Abstract no disponible

Tópico:

Radiation Effects in Electronics

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Información de la Fuente:

SCImago Journal & Country Rank
FuenteMicroelectronics Reliability
Cuartil año de publicaciónNo disponible
Volumen88-90
IssueNo disponible
Páginas903 - 908
pISSNNo disponible
ISSN0026-2714
Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S133646729

Enlaces e Identificadores:

Scienti ID0000499625-92Minciencias IDART-0000499625-92Scholar URLhttps://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3Asv-3ldWJvQUJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Scholar citations URLhttps://scholar.google.com/scholar?cites=413638291220856754&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=enPdf URLhttps://rua.ua.es/dspace/bitstream/10045/81569/5/2018_Isaza-Gonzalez_etal_MicroelectronicsReliability_preprint.pdfOpenalex URLhttps://openalex.org/W2895518944
Doi URLhttps://doi.org/10.1016/j.microrel.2018.07.008Open_access URLhttps://rua.ua.es/dspace/bitstream/10045/81569/5/2018_Isaza-Gonzalez_etal_MicroelectronicsReliability_preprint.pdf
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