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Hecho en Colombia

Evaluación de la fiabilidad de microprocesadores COTS mediante las infraestructuras de depuración On-Chip

Acceso Abierto

Idioma: Español

Publicado: 01/06/2017

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Radiation Effects in Electronics

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FuenteDOAJ (DOAJ: Directory of Open Access Journals)	Cuartil año de publicaciónNo disponible	VolumenNo disponible
IssueNo disponible	PáginasNo disponible	pISSNNo disponible
ISSNNo disponible	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S4306401280

Openalex URL	https://openalex.org/W4301412790	Open_access URL	https://rua.ua.es/dspace/bitstream/10045/66855/1/2017_Isaza_etal_RIDTEC.pdf

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