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Hecho en Colombia
Kaushik Roy
Universidad Estatal Técnica y Agrícola de Carolina del Norte
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Robust Detection of Bridge Defects in STT-MRAM Cells Under Process Variations
Acceso Cerrado
ART-GC_ART
ID Minciencias: ART-0000154828-19
Andrés Felipe Gómez Chacón
Freddy Alexander Forero Ramirez
Kaushik Roy
Victor Champac
Temas:
Magnetoresistive random-access memory
CMOS
Memory cell
Transistor
Computer science
Process (computing)
Electronic engineering
Fabrication
Spin-transfer torque
Electrical engineering
Materials science
Random access memory
Engineering
Computer hardware
Voltage
Magnetic field
Physics
Medicine
Alternative medicine
Magnetization
Pathology
Quantum mechanics
Operating system
Publicado: 2018
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