Autor
Cargando información...
Fundadores:
Producto desarrollado por:
@colav
Contacto
ImpactU:
Acerca de ImpactU
Manual de usuario
Código Abierto
Datos Abiertos
Apidocs
Estadísticas de uso
Indicadores de Cooperación
Información:
ImpactU Versión 3.11.2
Última actualización:
Interfaz de Usuario: 16/10/2025
Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
Rahma Moalla
Lyon Institute of Nanotechnology
Universidad Claude Bernard-Lyon I
Centro Nacional para la Investigación Científica
École centrale de Lyon
Perfil externo:
Citaciones:
1
Productos:
1
Filtros
Investigación
Cooperación
Productos
Patentes
Proyectos
Noticias
i
Coautorías según país de afiliación
Cargando información...
i
Evolución anual según la clasificación del ScienTI (Top 20)
Cargando información...
1 Producto
Más citado
CSV
API
Topography of nanometric thin films with three-wavelength digital interferometry
Ver producto
Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0000033294-31678
Ranking: ART-ART_A2
Fuente: Journal of Micro/Nanolithography MEMS and MOEMS
Pascal PICART
Mokrane Malek
Jorge Ivan Garcia Sucerquia
Mathieu EDELY
Rahma Moalla
Delorme Nicolas
Jean François Bardeau
Tópico:
Surface Roughness and Optical Measurements
Publicado: 2015
Citaciones:
1
Altmétricas:
0
Artículo de revista
1
NaN
