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E Gil Lafon
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Optical Characterization of GaAs/Si Layers Grown by the Conformal Method (Confined Lateral Epitaxial Growth)
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Acceso Cerrado
Fuente: Journal of materials research/Pratt's guide to venture capital sources
Angel Miguel Ardila Vargas
Oscar Martínez
Manuel Avella
Juan Jesús Jiménez
E Gil Lafon
B Gérard
Tópico:
Semiconductor Quantum Structures and Devices
Publicado: 2002
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Study of defects in conformal GaAs/Si layers by optical techniques and photoetching
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Acceso Cerrado
Fuente: Materials Science and Engineering B
Angel Miguel Ardila Vargas
Oscar Martínez
Luis Felipe Sanz del Soto
Manuel Avella
J Jiménez
J Napierala
E Gil Lafon
B Gérard
Tópico:
Semiconductor materials and devices
Publicado: 2002
Citaciones:
1
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0
Artículo de revista
1
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