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ImpactU Versión 3.11.2
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Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
Study of defects in conformal GaAs/Si layers by optical techniques and photoetching
Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 01/04/2002
APC (est):
No disponible
Angel Miguel Ardila Vargas
Oscar Martínez
Luis Felipe Sanz del Soto
Manuel Avella
J Jiménez
J Napierala
E Gil Lafon
B Gérard
JSON
HTML
BibTeX
Abstract:
Abstract no disponible
Tópico:
Semiconductor materials and devices
Citaciones:
1
Citaciones por año:
Altmétricas:
0
Información de la Fuente:
Fuente
Materials Science and Engineering B
Cuartil año de publicación
No disponible
Volumen
91-92
Issue
No disponible
Páginas
70 - 74
pISSN
No disponible
ISSN
0921-5107
Perfil OpenAlex
https://openalex.org/S4210190818
Enlaces e Identificadores:
Doi URL
https://doi.org/10.1016/s0921-5107(01)00974-6
Openalex URL
https://openalex.org/W1976045144
Scholar citations URL
https://scholar.google.com/scholar?cites=4907051877547550513&as_sdt=5,39&sciodt=0,39&hl=en
Scholar URL
https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AMaeiF69ZGUQJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Artículo de revista
