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Hecho en Colombia
Stephen Chryssoulis
Universidad de Ontario Occidental
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Secondary ion mass spectrometry relative sensitivity factors for Ru, Rh, Pr, Eu, Tm, Lu, Re, Os, and Ir
Acceso Abierto
Fuente: Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films
R G Wilson
F A Stevie
Stephen Chryssoulis
R B Irwin
Temas:
Secondary ion mass spectrometry
Ion
Chemistry
Yield (engineering)
Analytical Chemistry (journal)
Mass spectrometry
Caesium
Molecule
Inorganic chemistry
Materials science
Metallurgy
Environmental chemistry
Organic chemistry
Chromatography
Publicado: 1994
Citaciones:
4
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0
Artículo de revista
1
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