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Comparison of ZnO thin films deposited by three different SILAR processes
Acceso Cerrado
ART-ART_B
ID Minciencias: ART-0000016640-87
Fuente: Microelectronics Journal
Carlos Vargas Hernandez
Francy Nelly Jiménez garcía
Jesus Fabian Jurado
V Henao Granada
Temas:
Raman spectroscopy
Amorphous solid
Materials science
Thin film
Zincate
Ionic bonding
Adsorption
Layer (electronics)
Band gap
Diffraction
Absorption (acoustics)
Chemical engineering
Analytical Chemistry (journal)
Nanotechnology
Zinc
Optoelectronics
Optics
Chemistry
Composite material
Crystallography
Metallurgy
Ion
Physical chemistry
Organic chemistry
Physics
Engineering
Publicado: 2008
Citaciones:
27
Altmétricas:
0
Artículo de revista
XRD, -Raman and optical absorption investigations of ZnO deposited by SILAR method
Acceso Cerrado
ART-ART_B
ID Minciencias: ART-0000016640-86
Fuente: Microelectronics Journal
Carlos Vargas Hernandez
Francy Nelly Jiménez garcía
Jesus Fabian Jurado
V Henao Granada
Temas:
Raman spectroscopy
Materials science
Absorption (acoustics)
Zinc nitrate
Band gap
Adsorption
Analytical Chemistry (journal)
Diffraction
Zinc
Ionic bonding
Layer (electronics)
Absorption spectroscopy
Raman scattering
Absorption band
Optics
Ion
Nanotechnology
Chemistry
Optoelectronics
Physical chemistry
Metallurgy
Composite material
Physics
Organic chemistry
Chromatography
Publicado: 2008
Citaciones:
15
Altmétricas:
0
Artículo de revista
1
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