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Hecho en Colombia
Hernán Sánchez Machet
Universidad Nacional de Colombia
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An iterative and consistent method for the complex refraction index calculation of absorbent thin films
Acceso Cerrado
Fuente: Thin Solid Films
Mauricio García Castañeda
Hernán Sánchez Machet
Temas:
Refractive index
Transmittance
Thin film
Refraction
Optics
Amorphous solid
Materials science
Amorphous silicon
Iterative method
Silicon
Wavelength
Reflectivity
Simple (philosophy)
Optoelectronics
Mathematics
Physics
Crystalline silicon
Chemistry
Algorithm
Nanotechnology
Crystallography
Philosophy
Epistemology
Publicado: 1989
Citaciones:
6
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Artículo de revista
1
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