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Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
An iterative and consistent method for the complex refraction index calculation of absorbent thin films
Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 01/09/1989
APC (est):
No disponible
Mauricio García Castañeda
Hernán Sánchez Machet
JSON
HTML
BibTeX
Abstract:
Abstract no disponible
Tópico:
Thin-Film Transistor Technologies
Citaciones:
6
Citaciones por año:
Altmétricas:
0
Información de la Fuente:
Fuente
Thin Solid Films
Cuartil año de publicación
No disponible
Volumen
176
Issue
1
Páginas
69 - 72
pISSN
No disponible
ISSN
0040-6090
Perfil OpenAlex
https://openalex.org/S84339699
Enlaces e Identificadores:
Scholar URL
https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AhEj0pKq4c4MJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Doi URL
https://doi.org/10.1016/0040-6090(89)90364-7
Openalex URL
https://openalex.org/W2021620585
Scholar citations URL
https://scholar.google.com/scholar?cites=9472117484341708932&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en
Artículo de revista
