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Sandra Marcela López Ospina
Universidad Nacional de Colombia
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Medidas de transmitancia espectral sin la presencia de franjas de interferencia: un modelo para la obtención de las constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0000020775-1
Ranking: ART-ART_D
Fuente: Revista EIA
Heiddy Paola Quiroz Gaitán
Sandra Marcela López Ospina
Jorge Arturo Calderón Cómbita
Anderson Dussan Cuenca
Tópico:
Chalcogenide Semiconductor Thin Films
Publicado: 2014
Citaciones:
0
Altmétricas:
0
Artículo de revista
SPECTRAL TRANSMITTANCE MEASUREMENTS WITHOUT THE PRESENCE OF INTERFERENCE FRINGES: A MODEL FOR OBTAINING OPTICAL CONSTANTS OF THIN SEMICONDUCTOR FILMS
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Acceso Cerrado
Fuente: Revista EIA
Heiddy Paola Quiroz Gaitán
Sandra Marcela López Ospina
Jorge Arturo Calderón Cómbita
Anderon Dussán Cuenca
Tópico:
Optical Polarization and Ellipsometry
Publicado: 2014
Citaciones:
0
Artículo de revista
MEDIÇÕES DE TRANSMITÂNCIA ESPECTRAL SEM A PRESENÇA DE FRANJAS DE INTERFERÊNCIA: UM MODELO PARA OBTENÇÃO DE CONSTANTES ÓPTICAS DE FILMES FINOS EM SEMICONDUTORES
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Acceso Cerrado
Fuente: Revista EIA
Heiddy Paola Quiroz Gaitán
Sandra Marcela López Ospina
Jorge Arturo Calderón Cómbita
Anderon Dussán Cuenca
Publicado: 2014
Citaciones:
0
Artículo de revista
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