En este trabajo presentamos un modelo para la obtencion de las constantes opticas de peliculas delgadas semiconductoras cuando no es posible observar franjas de interferencia en los espectros. La obtencion de las cons- tantes opticas como el coeficiente de absorcion ( α ), el indice de refraccion (n), coeficiente de extincion ( k ) y las propiedades fisicas como el ancho de brecha prohibida «Gap» (Eg) y el espesor de la pelicula (d), fueron obtenidos para peliculas delgadas del compuesto Cu 2 ZnSnSe 4 mediante la deconvolucion de los espectros experimentales. Para el analisis de las medidas de transmitancia se tomo como base modelo de Bhattacharyya y elementos basicos de la teoria de Sweneapoel. El modelo aqui presentado tiene en cuenta consideraciones de inhomogeneidad en la pelicula y rugosidad en la superficie. Los valores para las constantes opticas obtenidas por el modelo propuesto presentaron concordancia con los obtenidos para las muestras a partir de la teoria de Sweneapoel, cuando fue posible su aplica- cion. Una variacion del ± 6 % fue observada para los valores del espesor, los cuales fueron corroborados mediante la realizacion de medidas de perfilometria. Abstract: This paper presents a model for obtaining the optical constants of thin films semiconductors. It is possible when there are not interference fringes in the transmittance spectra. Optical constants as the absorption coefficient (α), refrac- tive index (n), extinction coefficient (k) and other physical properties (Gap (Eg) and thickness (d)) were obtained for the Cu2ZnSnSe4 compound by deconvolution experimental spectra. Bhattacharyya model and basic elements of Swanepoel theory were used for analysis of transmittance measurements. TheModel presented takes into account considerations of inhomogeneity in the film and surface roughness. Values for the optical constants obtained by the proposed model showed agreement with those obtained for samples from Swanepoel theory, when its implementation was possible. A variation of ± 6 % for thickness values, which were corroborated by performing profilometry measurements, was observed.