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Secondary ion mass spectrometry quantification of elements in TiSi2, TiN, and TiW matrices
Acceso Cerrado
Fuente: Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films
Ge Lux
Fred Stevie
P M Kahora
R G Wilson
G W Cochran
Temas:
Secondary ion mass spectrometry
Tin
Mass spectrometry
Ion
Analytical Chemistry (journal)
Chemistry
Resolution (logic)
Static secondary-ion mass spectrometry
Ionization
Chromatography
Computer science
Organic chemistry
Artificial intelligence
Publicado: 1993
Citaciones:
2
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0
Artículo de revista
1
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