Autor
Cargando información...
Fundadores:
Producto desarrollado por:
@colav
Contacto
ImpactU:
Acerca de ImpactU
Manual de usuario
Código Abierto
Datos Abiertos
Apidocs
Estadísticas de uso
Indicadores de Cooperación
Información:
ImpactU Versión 3.10.0
Última actualización:
Interfaz de Usuario: 26/06/2025
Base de Datos: 26/06/2025
Hecho en Colombia
Hellen Santos
Universidad de São Paulo
Perfil externo:
Citaciones:
5
Productos:
1
Filtros
Investigación
Cooperación
Productos
Patentes
Proyectos
Noticias
i
Coautorías según país de afiliación
Cargando información...
i
Evolución anual según la clasificación del ScienTI (Top 20)
Cargando información...
1 Producto
Más citado
CSV
API
Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET
Acceso Cerrado
Fuente: Microelectronics Reliability
Saulo Gabriel Alberton
Vitor Aguiar
Nilberto Heder Medina
Nemitala Added
Eduardo Luiz Augusto Macchione
R Menegasso
G J Cesário
Hellen Santos
Valdir Scarduelli
J A Alcántara Núñez
Mostrar todos
Temas:
Voltage
Materials science
Power MOSFET
Ion
Deposition (geology)
Power (physics)
Heavy ion
Transistor
MOSFET
Event (particle physics)
Charge (physics)
Optoelectronics
Electrical engineering
Chemistry
Physics
Engineering
Quantum mechanics
Sediment
Organic chemistry
Biology
Paleontology
Publicado: 2022
Citaciones:
5
Altmétricas:
0
Artículo de revista
1
NaN
