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ImpactU Versión 3.11.2
Última actualización:
Interfaz de Usuario: 16/10/2025
Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET
Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 21/09/2022
APC (est):
No disponible
Saulo Gabriel Alberton
Vitor Aguiar
Nilberto Heder Medina
Nemitala Added
Eduardo Luiz Augusto Macchione
R Menegasso
G J Cesário
Hellen Santos
Valdir Scarduelli
J A Alcántara Núñez
Mostrar todos (13)
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Abstract:
Abstract no disponible
Tópico:
Radiation Effects in Electronics
Citaciones:
5
Citaciones por año:
Altmétricas:
0
Información de la Fuente:
Fuente
Microelectronics Reliability
Cuartil año de publicación
No disponible
Volumen
137
Issue
No disponible
Páginas
114784 - 114784
pISSN
No disponible
ISSN
0026-2714
Perfil OpenAlex
https://openalex.org/S133646729
Enlaces e Identificadores:
Scholar URL
https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AQ147D21cgGgJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Pdf URL
https://repositorio.usp.br/bitstreams/35c9858f-9c0e-4ed9-8081-b05985f0f9a6
Openalex URL
https://openalex.org/W4296654216
Doi URL
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114784
Artículo de revista
