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Hecho en Colombia
Eduardo Chielle
New York University Abu Dhabi
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Application-Based Analysis of Register File Criticality for Reliability Assessment in Embedded Microprocessors
Acceso Cerrado
ART-ART_A2
ID Minciencias: ART-0000499625-59
Fuente: Journal of Electronic Testing
Felipe Restrepo Calle
Sergio Cuenca Asensi
Antonio Martínez Álvarez
Eduardo Chielle
Fernanda Lima Kastensmidt
Temas:
Register file
Computer science
Microprocessor
Reliability (semiconductor)
Criticality
Embedded system
Metric (unit)
Set (abstract data type)
Reliability engineering
Register (sociolinguistics)
Parallel computing
Instruction set
Engineering
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Power (physics)
Operations management
Physics
Linguistics
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Quantum mechanics
Nuclear physics
Publicado: 2015
Citaciones:
9
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0
Artículo de revista
1
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