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MohammedShakil Malek
Azad University Tehran medical Branch
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Full-field and contact-less topography of nanometric thin films based on multiwavelength interferometry
Acceso Cerrado
ART-ART_D
ID Minciencias: ART-0000033294-31677
Fuente: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE
Pascal PICART
MohammedShakil Malek
Jorge Ivan Garcia Sucerquia
R Moalla
Mathieu EDELY
Delorme Nicolas
Jean François Bardeau
Temas:
Wafer
Optics
Materials science
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Publicado: 2015
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