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Nawal Kishore
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A study on laser induced damage threshold of SiO2 and TiO2 Thin Films
Acceso Cerrado
Fuente: Journal of Integrated Science and Technology
Sunil Kumar
Kamal Sindhu
Ajay Shankar
Nawal Kishore
Temas:
Materials science
Electric field
Thin film
Substrate (aquarium)
Amorphous solid
Optics
Diffraction
Irradiation
Laser
Evaporation
Optoelectronics
Nanotechnology
Chemistry
Oceanography
Physics
Organic chemistry
Quantum mechanics
Geology
Nuclear physics
Thermodynamics
Publicado: 2017
Citaciones:
1
Artículo de revista
1
NaN
