En este trabajo se muestra que el perfil de indice de refraccion de fibras opticas se puede determinar analizando el patron de campo cercano transmitido con el metodo de elementos finitos. Se presenta brevemente el principio del metodo y se evalua comparando los resultados obtenidos con medidas experimentales con el metodo RNF en un fibras de nucleo de silicio puro y para una fibra LEAF.