Se prepararon muestras policristalinas del sistema de aleaciones (CuGaSe 2 ) 1-x (FeSe) x en el rango de composiciones (0≤x≤0,5) por la tecnica de fusion y recocido. Los productos fueron analizados usando las tecnicas de Difraccion de Rayos X (DRX) y Analisis Termico Diferencial (ATD). Del analisis de los resultados experimentales se propone un diagrama de fases, T-x, en la region de composiciones cercana al CuGaSe 2 . Polycrystalline samples of the (CuGaSe 2 ) 1-x (FeSe) x alloy system in the composition range (0≤x≤0.5) were prepared by the melt and anneal technique. X-Ray Diffraction (XRD) and Differential Thermal Analysis (DTA) techniques were used to characterize the products. From the analysis of the experimental results a T-x phase diagram is proposed in the CuGaSe 2 -rich field (0≤x≤0.5).
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Chalcogenide Semiconductor Thin Films
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FuenteRevista Latinoamericana de Metalurgia y Materiales/Revista Latinoamericana de Metalurgía y Materiales