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Caracterización de capas de GaAs y GaAsMn depositadas por magnetron sputtering

Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0000018341-167
Ranking: ART-ART_C
Idioma: Español
Publicado: 01/09/2016
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Tópico:

Copper Interconnects and Reliability

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Volumen29
Issue3
Páginas98 - 104
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Minciencias IDART-0000018341-167Scienti ID0000018341-167Openalex URLhttps://openalex.org/W3166784552
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