En este trabajo se presenta, un estudio experimental de la dependencia angular de la reflectancia de sistemas multicapas en condiciones de reflexion interna total (Configuracion de Kretschmann). El crecimiento de las estructuras se lleva acabo en un sistema de ultra alto vacio mediante evaporacion con canon de electrones y evaporador termico de materiales, el sensor de este ultimo sistema es calibrado mediante un estudio topografico por microscopia de fuerza atomica. El reflectometro angular cuenta con un goniometro automatizado de alta resolucion (< 1 mrad), y un laser de 533 nm en polarizacion TM que ilumina el sistema multicapa a traves de un lente cilindrico. Los resultados permiten caracterizar la evolucion, calidad y acoplamiento de las resonancias plasmonicas en funcion de los parametros estructurales como espesores y numero de capas.