Como es sabido, las propiedades opticas de los materiales pueden cambiar en funcion de la temperatura [1,2]. Por tanto, y pensando en la configuracion de un laboratorio robusto de caracterizacion optica en el Departamento de Fisica de la Universidad de los Andes, se presenta en este trabajo, el diseno y construccion de un sistema de caracterizacion optica de materiales a bajas temperaturas. En particular, este consiste en un reflectometro espectral integrado a un criostato optico comercial. El sistema construido permite bajar la temperatura hasta 3.7 K y la fuente de luz ofrece un espectro que varia entre 300 a 1100 nm y es filtrada por medio de un monocromador. En el montaje experimental la luz proveniente de una fuente de longitud de onda variable (monocromador) se conduce a traves de una fibra optica y se dirige a una lente colimadora y luego a un polarizador que selecciona un estado de polarizacion lineal. Luego, el haz es divido por un beam splitter reflejando una fraccion del haz incidente hacia un fotodiodo de silicio que detecta la senal de referencia, mientras que la fraccion de luz trasmitida se dirige a la muestra a estudiar. La senal reflejada en la muestra es recogida en un segundo fotodiodo identico al de referencia. Las senales detectadas son dirigidas a sendos voltimetros interconectados con un PC en donde tiene lugar la adquisicion y analisis de datos mediante un programa desarrollado en LabVIEW© (Fig.1). Los recursos economicos para el desarrollo de este proyecto son dados por parte de la Universidad de los Andes.