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Hecho en Colombia

Control y caracterización de un dispositivo de posicionamiento X-Y con desplazamientos micrométricos para una posterior aplicación en procesos de microfabricación

Acceso Cerrado

ID Minciencias: TP-0000142220-35

Ranking: TP-TP_B

Idioma: Español

Publicado: 01/01/2009

APC (est): No disponible

Abstract no disponible

Advanced Surface Polishing Techniques

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Scienti ID	0000142220-35	Minciencias ID	TP-0000142220-35	Openalex URL	https://openalex.org/W2291652212

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