Este trabajo presenta los resultados del deposito de recubrimientos de TiN sobre sustratos metalicos (acero AISI M2 y AISI 304) mediante diversas tecnicas tales como la deposicion fisica en fase vapor, Pulverizacion Catodica con Magnetron e Implantacion Ionica. Con el fin de identificar las fases presentes, asi como la estructura cristalina, la textura cristalografica, y los parametros de red de los recubrimientos, se utilizo difraccion de rayos X con bajo angulo de incidencia. El espesor de las peliculas se midio mediante analisis de las imagenes obtenidas por microscopia electronica de Barrido. Los recubrimientos de TiN obtenidos por Pulverizacion Catodica con Magnetron mostraron una orientacion preferencial en el plano (200), lo cual esta de acuerdo con la literatura. Este plano tiene la menor energia superficial. Los recubrimientos de TiN producidos por Implantacion Ionica mostraron una alta textura cristalografica en el plano (111), el cual tiene la menor energia de deformacion elastica. Para recubrimientos depositados en el acero AISI 304 , la intensidad del plano (200) parecio incrementar con el aumento del espesor del recubrimiento. Sin embargo, este no era el caso de los recubrimientos depositados sobre acero AISI M2.