Realizar la caracterizacion estructural y microestructural mediante el metodo de Rietveld, involucra conocer todas las contribuciones al perfil, incluyendo la Funcion de Resolucion Instrumental ( Instrumental Resolution Function , IRF) la cual describe el ensanchamiento ocasionado por la geometria optica del difractometro. Las principales dificultades encontradas en los calculos numericos de la funcion instrumental estan asociadas con el amplio rango de parametros instrumentales: goniometro, muestra, longitud de onda de la fuente de rayos-X, rendijas de divergencia ( Divergence Slit , DS) y recepcion ( Receiving Slit , RS), el uso o no de las rendijas soller ( Soller Slits, SS) en el haz incidente y/o difractado, el uso o no del monocromador, entre otros. Por estas razones, efectuar el analisis microestructural de un material usando difraccion de rayos-X de muestras policristalinas, es un procedimiento complejo que involucra conocimientos profundos tanto a nivel teorico como experimental de todos los factores de un perfil, de esta manera es posible extraer informacion importante para un amplio rango de campos a nivel tecnologico e investigativo, que utilizan esta tecnica como parte fundamental en sus procesos.