En este trabajo, se describe la caracterizacion estructural de peliculas delgadas empleando un equipo convencional de difraccion de rayos-X, X’PERT PRO PANalytical. Se incluye una breve revision teorica de las tecnicas de difraccion y reflectividad de rayos –X. En la parte experimental se determinaron las condiciones necesarias para el montaje de las muestras en el equipo, empleando las configuraciones de incidencia rasante y de reflectividad de rayos-X. Se analizaron 11 muestras diferentes de pelicula delgada y los resultados de espesor y de parametro de red se obtuvieron mediante los programas X’pert Reflectivity y X´pert HighScore Plus respectivamente. Los resultados obtenidos sugieren la viabilidad de emplear un equipo convencional de rayos-X para la caracterizacion de peliculas delgadas.