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Study by X-ray diffraction of the residual stress produced during deposition of TiN thin films on metallic substrates

Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 01/08/2010
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Tópico:

Metal and Thin Film Mechanics

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FuenteRevista Facultad De Ingenieria-universidad De Antioquia
Cuartil año de publicaciónNo disponible
VolumenNo disponible
Issue54
Páginas32 - 41
pISSNNo disponible
ISSNNo disponible
Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S1020513567

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Scholar URLhttps://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3A4GNEu1P-jkcJ%3Ascholar.google.com&btnG=Openalex URLhttps://openalex.org/W1550252021Scholar citations URLhttps://scholar.google.com/scholar?cites=5156338258963358688&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en
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