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ImpactU Versión 3.11.2
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Hecho en Colombia

Medidas de resistencia de contacto en películas delgadas semiconductoras de CdTe

Acceso Cerrado

Idioma: Español

Publicado: 01/01/1997

APC (est): No disponible

Abstract no disponible

Advanced Semiconductor Detectors and Materials

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FuenteRevista colombiana de física	Cuartil año de publicaciónNo disponible	Volumen29
Issue2	Páginas119 - 122	pISSNNo disponible
ISSNNo disponible	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S4306526365

Openalex URL	https://openalex.org/W1544284554

Artículo de revista