Los microscopios de barrido se han convertido en las manos y los “ojos” de experimentadores de nuestro siglo, son herramien- tas necesarias en los laboratorios de educacion e investigacion para la caracterizacion a nanoescalas. El presente articulo pre- senta las modificaciones en la implementacion electronica (caracterizacion de los piezoelectricos y sistema de barrido) y mecani- ca (diseno de un sistema de antivibracion) de un microscopio de barrido de efecto tunel que han permitido visualizacion y modi- ficacion de superficies a nanoescala. Se describe una metodologia para la correcta visualizacion y caracterizacion de superficies usando el instrumento implementado, alcanzando la cuantificacion bidimensional de caracteristicas de hasta 1300nm2, con re- solucion ~15nm. Esta metodologia, determinada experimentalmente, tiene en cuenta parametros criticos para la estabilizacion de la corriente tunel, como lo son la velocidad de barrido y las geometrias y dimensiones de las agujas del microscopio. La ver- satilidad del microscopio permite modificar y visualizar los defectos introducidos en muestras de HOPG al aplicar voltajes entre la punta del microscopio y la muestra. Los resultados aqui descritos permiten presentar facilmente los conceptos de barrido to- pografico y litografia.