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ImpactU Versión 3.11.2
Última actualización:
Interfaz de Usuario: 16/10/2025
Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
Accuracy of a reference-free Monte Carlo approach for SEM-EDS thickness assessment of TiN coatings onto diverse substrates
Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 31/12/2021
APC (est):
No disponible
Juan Pablo Nicolas Cruz
Carlos Mario Garzón
Johan Katherine Noreña Bahamon
Fabian Pineda
Juan Sebastian Cachaya Munar
Abel Andre Candido Recco
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Abstract:
Abstract no disponible
Tópico:
Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
Citaciones:
3
Citaciones por año:
Altmétricas:
0
Información de la Fuente:
Fuente
Micron
Cuartil año de publicación
No disponible
Volumen
154
Issue
No disponible
Páginas
103204 - 103204
pISSN
No disponible
ISSN
0968-4328
Perfil OpenAlex
https://openalex.org/S141109035
Enlaces e Identificadores:
Scholar citations URL
https://scholar.google.com/scholar?cites=11984926363410691205&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en
Pmid URL
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/35032724
Scholar URL
https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AhfROVgcDU6YJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Doi URL
https://doi.org/10.1016/j.micron.2021.103204
Openalex URL
https://openalex.org/W4206486204
Artículo de revista
