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SEM-EDS coating thickness assessment: an insight into the accuracy of Monte Carlo simulations carried out for TiN coatings using three different freeware graphical user interface

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Tópico:

Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques

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Información de la Fuente:

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FuenteMicroscopy and Microanalysis
Cuartil año de publicaciónNo disponible
Volumen27
IssueS1
Páginas2510 - 2512
pISSNNo disponible
ISSN1435-8115

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