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FuenteMicroelectronics Reliability | Cuartil año de publicaciónNo disponible | Volumen111 |
IssueNo disponible | Páginas113708 - 113708 | pISSNNo disponible |
ISSN0026-2714 | Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S133646729 | |
| Minciencias ID | ART-0001377438-14 | Scienti ID | 0001377438-14 | Doi URL | https://doi.org/10.1016/j.microrel.2020.113708 |
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| Openalex URL | https://openalex.org/W3032906733 | ||||