El análisis paramétrico usado en la determinación de los efectos de los parámetros geométricos y los asociados al dieléctrico en Superficies Selectivas en Frecuencia (SSF), es una herramienta de uso generalizado debido a la ausencia de formulaciones que permitan evaluar este tipo de efectos. El objetivo de esta clase de análisis es determinar la influencia en la frecuencia de resonancia de un parámetro en particular, bien sea asociado al soporte dieléctrico o a los parámetros geométricos de la superficie selectiva, con la finalidad de orientar el proceso de diseño de la superficie. En este artículo se presenta la aplicación del Modelo de Circuito Equivalente (MCE) actuando en conjunto con una novedosa formulación de la permitividad efectiva del dieléctrico en SSF tipo bucle cuadrado, el cual permite determinar los efectos de los parámetros geométricos y los asociados al dieléctrico en la frecuencia de resonancia de la superficie selectiva, haciendo innecesario el uso de análisis de tipo paramétrico. Los resultados obtenidos muestran una exactitud aceptable cuando se comparan con los arrojados por las simulaciones electromagnéticas realizadas en un software basado en el Método de los Elementos Finitos (MEF).