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X‐Ray Powder Diffraction, Phase Transitions and Optical Characterization of the Cu(In1‐xGax)3Te5 Semiconducting System.

Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 16/06/2005
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Tópico:

Chalcogenide Semiconductor Thin Films

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FuenteChemInform
Cuartil año de publicaciónNo disponible
Volumen36
Issue28
Páginas100 - 104
pISSNNo disponible
ISSN0931-75971522-26671431-5890
Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S41354064

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Openalex URLhttps://openalex.org/W2951114616Scholar citations URLhttps://scholar.google.com/scholar?cites=13308312698433220788&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=enScholar URLhttps://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AtLDuheOfsLgJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Doi URLhttps://doi.org/10.1002/chin.200528013Pdf URLhttps://www.researchgate.net/profile/Giovanni-Marin/publication/244629646_X-ray_powder_diffraction_study_and_optical_characterization_of_the_CuIn_1-_x_Ga_x_3_Te_5_semiconducting_system/links/53ceca5b0cf25dc05cfaceb4/X-ray-powder-diffraction-study-and-optical-characterization-of-the-CuIn-1-x-Ga-x-3-Te-5-semiconducting-system.pdf
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