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Autor

Detection of Noise Level and Resonance Frequency Shifting Through of Principal Component Analysis (PCA) in Simulated Dataset of Band Excitation Scanning Probe Microscopy (BE-SPM)

Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0001277120-9
Ranking: ART-ART_A2

Abstract:

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Tópico:

Force Microscopy Techniques and Applications

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Información de la Fuente:

SCImago Journal & Country Rank
FuenteMicroscopy and Microanalysis
Cuartil año de publicaciónNo disponible
Volumen24
IssueS1
Páginas596 - 597
pISSNNo disponible
ISSN1435-8115

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Artículo de revista