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ImpactU Versión 3.11.2
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Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
Nanostructural characterization of sputter deposited Ti-Nb coatings byautomated crystallographic orientation mapping
Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 04/07/2018
APC (est):
No disponible
ERNESTO DAVID GONZALEZ CRUZ
Conrado R M Afonso
Pedro Ap Nascente
JSON
HTML
BibTeX
Abstract:
Abstract no disponible
Tópico:
Metal and Thin Film Mechanics
Citaciones:
5
Citaciones por año:
Altmétricas:
0
Información de la Fuente:
Fuente
Thin Solid Films
Cuartil año de publicación
No disponible
Volumen
661
Issue
No disponible
Páginas
92 - 97
pISSN
No disponible
ISSN
0040-6090
Perfil OpenAlex
https://openalex.org/S84339699
Enlaces e Identificadores:
Scienti ID
0001394311-13
Doi URL
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2018.06.051
Scholar URL
https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3As5oV-xBnoSsJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Openalex URL
https://openalex.org/W2810203033
Scholar citations URL
https://scholar.google.com/scholar?cites=3143907337510951603&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en
Scienti URL
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0040609018304450?via%3Dihub
Artículo de revista
