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Microscopic Shape from Focus using White Light Interferometric Fringes

Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 01/01/2018
APC (est): No disponible

Abstract:

In this work we study the use of a focus measure to improve the 3D reconstruction of low reflectivity microscopic samples using white light interference microscopy. Simulation and experimental results show the improved reconstruction.

Tópico:

Image Processing Techniques and Applications

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PáginasJTu4A.19 - JTu4A.19
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Scholar URLhttps://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3Ay7I5DoOtZQIJ%3Ascholar.google.com&btnG=Pdf URLhttps://opg.optica.org/viewmedia.cfm?seq=0&uri=3d-2018-JTu4A.19Uri URLhttps://hdl.handle.net/20.500.12585/8903
Openalex URLhttps://openalex.org/W2809113192Dspace URLhttps://repositorio.utb.edu.co/handle/20.500.12585/8903Doi URLhttps://doi.org/10.1364/3d.2018.jtu4a.19
Oaipmh URLhttps://repositorio.utb.edu.co/oai/request?verb=GetRecord&metadataPrefix=dim&identifier=oai:repositorio.utb.edu.co:20.500.12585/8903
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