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An FPGA-based dynamically reconfigurable platform for emulation of permanent faults in ASICs

Acceso Cerrado

Idioma: Inglés

Publicado: 23/06/2017

APC (est): No disponible

Abstract no disponible

Radiation Effects in Electronics

FuenteMicroelectronics Reliability	Cuartil año de publicaciónNo disponible	Volumen75
IssueNo disponible	Páginas110 - 120	pISSNNo disponible
ISSN0026-2714	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S133646729

Scienti ID	0000703818-10	Openalex URL	https://openalex.org/W2678723747	Scholar citations URL	https://scholar.google.com/scholar?cites=6945053364329384089&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en
Doi URL	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2017.06.032	Scienti URL	https://www.journals.elsevier.com/microelectronics-reliability	Scholar URL	https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AmQj8Bj3JYWAJ%3Ascholar.google.com&btnG=

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