Una GEM-Foil (Gas Electron Multiplier - Foil) es un componente básico de nuevos detectores de radiación usados principalmente en experimentos de física de altas energías y física nuclear. El desempeño óptimo de tales detectores depende críticamente de la calidad de fabricación de dicho componente, ya que cualquier irregularidad en una de las cientos de miles de micro-perforaciones de la placa puede inducir una chispa durante el funcionamiento y dañar el detector. Actualmente, para evaluar la calidad de fabricación de una GEM-Foil se adquieren imágenes de alta resolución mediante sistemas ópticos que las digitalizan para ser luego examinadas por inspección visual. En este trabajo se comparan varias técnicas para realizar la binarización de las imágenes de las GEM-Foils, aplicando técnicas de umbralización global y local, con el propósito de mejorar la rapidez y eficiencia del procesamiento de las imágenes de las GEM-Foils para realizar posteriormente su control de calidad. A partir de las pruebas realizadas se encontró que mediante cálculos estadísticos simples, como el promedio del máximo y mínimo de intensidad, aplicando umbralización local adaptativa es posible realizar la segmentación de las imágenes de una manera eficiente sin tener que recurrir a métodos más complejos los cuales pueden implicar tiempos de proceso demasiado grandes.