En este trabajo se muestra un metodo que permite la medida en el plano 2D, con alta precision de la posicion, el desplazamiento y la orientacion de un objeto movil. Un plano de referencia es fijado a la superficie del objeto y es localizado en la escena por medio de un sistema de imagen estatico con resolucion subpixel en el plano perpendicular al eje optico. El uso de la transformada de Fourier 2D, asociado a la aproximacion del plano de fase permiten alta resolucion del sistema. La introduccion de un defecto en el patron de referencia permite la determinacion de la orientacion del objeto en un rango de ±180 o , sin afectar la precision y resolucion en la localizacion del objeto.