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Cu 3 TaSe 4 and Cu 3 NbSe 4 : X-ray diffraction, differential thermal analysis, optical absorption and Raman scattering

Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 10/11/2015
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Chalcogenide Semiconductor Thin Films

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FuenteJournal of Alloys and Compounds
Cuartil año de publicaciónNo disponible
Volumen658
IssueNo disponible
Páginas749 - 756
pISSNNo disponible
ISSN0925-8388
Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S67716761

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Scholar citations URLhttps://scholar.google.com/scholar?cites=14693309613053992870&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=enDoi URLhttps://doi.org/10.1016/j.jallcom.2015.10.283
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