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X-ray depth profiling of iron oxide thin films

Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 01/04/1988
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Tópico:

Non-Destructive Testing Techniques

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FuenteJournal of materials research/Pratt's guide to venture capital sources
Cuartil año de publicaciónNo disponible
Volumen3
Issue2
Páginas351 - 356
pISSNNo disponible
ISSN2044-5326
Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S19730638

Enlaces e Identificadores:

Doi URLhttps://doi.org/10.1557/jmr.1988.0351Openalex URLhttps://openalex.org/W2148796889Scholar URLhttps://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3A5EVIaJV-vxsJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Scholar citations URLhttps://scholar.google.com/scholar?cites=1999455939740583396&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en
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