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ImpactU Versión 3.11.2
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X-ray depth profiling of iron oxide thin films

Acceso Cerrado

Idioma: Inglés

Publicado: 01/04/1988

APC (est): No disponible

Abstract no disponible

Non-Destructive Testing Techniques

FuenteJournal of materials research/Pratt's guide to venture capital sources	Cuartil año de publicaciónNo disponible	Volumen3
Issue2	Páginas351 - 356	pISSNNo disponible
ISSN2044-5326	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S19730638

Doi URL	https://doi.org/10.1557/jmr.1988.0351	Openalex URL	https://openalex.org/W2148796889	Scholar URL	https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3A5EVIaJV-vxsJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Scholar citations URL	https://scholar.google.com/scholar?cites=1999455939740583396&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en

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