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Hecho en Colombia

Total ionizing dose effects in switched-capacitor filters using oscillation-based test

Acceso Cerrado

Idioma: Inglés

Publicado: 03/09/2007

APC (est): No disponible

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Abstract:

This paper studies long-term effects produced by ionizing radiation in a switched-capacitor filter, using the Oscillation Based Test (OBT) approach [1]. In this case, threshold voltage shifting is considered as one of the major concerning effects produced by Total Ionizing Dose (TID). Simulation results show that the OBT approach is very well suited for detection of faulty filters.

Tópico:

Radiation Effects in Electronics

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Información de la Fuente:

FuenteNo disponible	Cuartil año de publicaciónNo disponible	VolumenNo disponible
IssueNo disponible	Páginas263 - 266	pISSNNo disponible
ISSNNo disponible	Perfil OpenAlexNo disponible

Enlaces e Identificadores:

Scienti ID	0000602256-9	Scienti ID	0000172820-144	Scholar citations URL	https://scholar.google.com/scholar?cites=6172973644047386535&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en
Scholar URL	https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3ApwdLzdLOqlUJ%3Ascholar.google.com&btnG=	Openalex URL	https://openalex.org/W2137521937	Doi URL	https://doi.org/10.1145/1284480.1284551
Scienti URL	http://doi.acm.org/10.1145/1284480.1284551

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