En este articulo se presenta el estudio de las propiedades electroquimicas de las peliculas anodicas porosas, crecidas sobre la aleacion de aluminio AA 2024-T3, obtenidas con la tecnica de corriente directa (DC) con densidades de corriente de 10, 15 y 20 mA/cm2 en una solucion de H2SO4. El analisis morfologico se realizo con microscopia de fuerza atomica (AFM) y permitio identificar que el aumento en la densidad de corriente genera mayor homogeneidad de la superficie y disminucion en los valores de rugosidad. Con la medida de microdureza Vickers, se determino que los anodizados mejoran su resistencia mecanica frente al sustrato. Para evaluar la resistencia a la corrosion se utilizaron la tecnica de espectroscopia de impedancia electroquimica (EIS) y las curvas de polarizacion Tafel. A partir de estas tecnicas se determino que el aumento en la densidad de corriente forma peliculas que incrementan la resistencia a la corrosion. Adicionalmente se modelo el comportamiento electroquimico de las peliculas producidas y se hizo la correlacion con las imagenes obtenidas por microscopia electronica de barrido (SEM). Abstract: This paper reports the results of a study about the corrosion electrochemical properties of the porous anodic films grown on aluminium alloys 2024 T3, obtained by DC technique at current densities of 10, 15 and 20 mA/cm2 in an aqueous solution of H2SO4. Materials characterization was carried out using atomic force microscopy (AFM) allowing identify that the increase in the current density produces a greater surface homogeneity and a decrease of average surface roughness. The micro-hardness Vickers measurements determined that the hard anodization layer improves their mechanical resistance related to the substrate. To evaluate the corrosion resistance of the anodic films, the EIS technique and Tafel polarization curves were employed. From these techniques it has been determined that the increase in the current density values forms films that increase the corrosion resistance. In addition the electrochemical behavior of the obtained films was modeled and the correlation with the images obtained by scattering electron microscopy (SEM) was made.