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Characterization of the negative association between seed yield and seed size among genotypes of common bean

Acceso Cerrado

Idioma: Inglés

Publicado: 01/06/1990

APC (est): No disponible

Abstract no disponible

Plant pathogens and resistance mechanisms

FuenteField Crops Research	Cuartil año de publicaciónNo disponible	Volumen23
Issue3-4	Páginas159 - 175	pISSNNo disponible
ISSN0378-4290	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S148071443

Scholar citations URL	https://scholar.google.com/scholar?cites=11755415828157787541&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en	Doi URL	https://doi.org/10.1016/0378-4290(90)90052-d	Scholar URL	https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AlW1ZsGmgI6MJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Openalex URL	https://openalex.org/W2093845593

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