Exchange bias of patterned systems: Model and numerical simulation

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Tópico:

Magnetic properties of thin films

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Información de la Fuente:

FuenteJournal of Magnetism and Magnetic Materials	Cuartil año de publicaciónNo disponible	Volumen322
Issue21	Páginas3329 - 3332	pISSNNo disponible
ISSN0304-8853	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S3649266

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