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Autor

Morphological characterization and AES depth profile analysis of CuInS2 thin films

Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0000097977-427
Ranking: ART-ART_A1
Idioma: Inglés
Publicado: 16/05/2009
APC (est): No disponible

Abstract:

Abstract no disponible

Tópico:

Chalcogenide Semiconductor Thin Films

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Información de la Fuente:

SCImago Journal & Country Rank
FuenteSolar Energy Materials and Solar Cells
Cuartil año de publicaciónNo disponible
Volumen94
Issue1
Páginas17 - 21
pISSNNo disponible
ISSN0927-0248
Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S166040772

Enlaces e Identificadores:

Scienti ID0000097977-427Minciencias IDART-0000097977-427Scholar URLhttps://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AV0Oiil50fv0J%3Ascholar.google.com&btnG=
Scholar citations URLhttps://scholar.google.com/scholar?cites=18266165088062948183&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=enOpenalex URLhttps://openalex.org/W2057613950Doi URLhttps://doi.org/10.1016/j.solmat.2009.04.011
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