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Assessment of the out-plane and in-plane ordering of high quality ZnO nanorods by X-ray multiple diffraction

Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0001530655-1
Ranking: ART-ART_A1
Idioma: Inglés
Publicado: 16/11/2012
APC (est): No disponible

Abstract:

Abstract no disponible

Tópico:

GaN-based semiconductor devices and materials

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Información de la Fuente:

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FuenteThin Solid Films
Cuartil año de publicaciónNo disponible
Volumen541
IssueNo disponible
Páginas107 - 112
pISSNNo disponible
ISSN0040-6090
Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S84339699

Enlaces e Identificadores:

Scienti ID0001530655-1Minciencias IDART-0001530655-1Doi URLhttps://doi.org/10.1016/j.tsf.2012.10.131
Openalex URLhttps://openalex.org/W2020491871
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