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Assessment of the out-plane and in-plane ordering of high quality ZnO nanorods by X-ray multiple diffraction

Acceso Cerrado

ID Minciencias: ART-0001530655-1

Ranking: ART-ART_A1

Idioma: Inglés

Publicado: 16/11/2012

APC (est): No disponible

Abstract no disponible

GaN-based semiconductor devices and materials

FuenteThin Solid Films	Cuartil año de publicaciónNo disponible	Volumen541
IssueNo disponible	Páginas107 - 112	pISSNNo disponible
ISSN0040-6090	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S84339699

Scienti ID	0001530655-1	Minciencias ID	ART-0001530655-1	Doi URL	https://doi.org/10.1016/j.tsf.2012.10.131
Openalex URL	https://openalex.org/W2020491871

Artículo de revista